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日本KIKUSUI菊水TOS3200泄漏電流測(cè)試儀校準(zhǔn)方法及注意事項(xiàng)
日期：2012-10-17瀏覽：7930次
日本KIKUSUI菊水TOS3200泄漏電流測(cè)試儀校準(zhǔn)方法及注意事項(xiàng)
1.校準(zhǔn)方法
安規(guī)儀漏電流測(cè)試也有交流和直流之分，與輸出的電壓一致。當(dāng)加交流高壓時(shí)，就測(cè)交流漏電流，是直流高壓就測(cè)直流漏電流。安規(guī)儀漏電流的設(shè)定一般為標(biāo)稱值：0.5mA、1mA、2mA、5mA、10mA、20mA、等等。當(dāng)被測(cè)試件加到規(guī)定的高壓時(shí)，由于被測(cè)試件所承受耐壓的能力，會(huì)有一些漏電流，當(dāng)電流超過(guò)安規(guī)儀漏電流的設(shè)定時(shí)，儀器報(bào)安規(guī)綜合測(cè)試儀報(bào)警，并切斷高壓，表示被測(cè)試件耐壓測(cè)試不合格。有些安規(guī)儀具有實(shí)時(shí)顯示漏電流的功能。
安規(guī)綜合測(cè)試儀輸出的高壓通過(guò)高壓限流電阻（根據(jù)所測(cè)漏電流的不同，阻值作相應(yīng)的改變，電流大，阻值??；電流小，阻值大）接入數(shù)字多用表的電流輸入端，利用數(shù)字多用表的交流電流或直流電流測(cè)試功能，測(cè)試交流漏電流或直流漏電流。電壓從低往高調(diào)節(jié)，當(dāng)數(shù)字多用表顯示的電流接近設(shè)定的漏電流值時(shí)，慢慢的調(diào)高電壓，同時(shí)觀察數(shù)字多用表顯示的電流值，直到安規(guī)儀報(bào)警，此時(shí)顯示的電流值即為漏電流的實(shí)測(cè)值。對(duì)于具有實(shí)時(shí)顯示漏電流功能的安規(guī)儀，還要校準(zhǔn)漏電流的顯示準(zhǔn)確度，這時(shí)只要把安規(guī)儀顯示的漏電流值與數(shù)字多用表顯示的電流值進(jìn)行比較即可。
2.注意事項(xiàng)
數(shù)字多用表與高壓限流電阻R1串聯(lián)次序不能接錯(cuò)，當(dāng)電壓太高時(shí)，就會(huì)燒壞數(shù)字多用表，因?yàn)閿?shù)字多用表的輸入端對(duì)地電壓不能超過(guò)規(guī)定值。建議在電壓量程的三分之二左右進(jìn)行漏電流測(cè)試，這樣更接近實(shí)際使用情況，根據(jù)電壓量程和所要校準(zhǔn)的漏電流大小選擇合適的高壓限流電阻。如果在很低的電壓范圍進(jìn)行測(cè)量，這不僅不符合實(shí)際使用情況，而且在漏電流大小不變的情況下，高壓限流電阻必定選擇很小，這樣調(diào)節(jié)電壓時(shí)，電流變化太快，從而影響校準(zhǔn)的準(zhǔn)確度。
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測(cè)儀
- 國(guó)產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測(cè)試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測(cè)試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測(cè)試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(cè)試
- 電池/光伏/汽車充電樁測(cè)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛(ài)斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽(yáng)SIGLENT
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測(cè)試
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 美國(guó)BK PRECISION
- 紅外熱像儀
- 物料輪廓顏色缺料視覺(jué)篩選
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 博勒飛Brookfield
- 愛(ài)色麗X-Rite/電色NIPPON
- 梅特勒METTLER
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ADCMT愛(ài)德萬(wàn)ADVANTEST
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計(jì)
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長(zhǎng)盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國(guó)產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動(dòng)/聲學(xué)測(cè)試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測(cè)試設(shè)備
- 長(zhǎng)盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測(cè)試
- 永磁軟磁磁通量測(cè)試
- 汽車電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
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