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上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)專(zhuān)業(yè)代理DESCO、Kleinwachter靜電檢測(cè)防護(hù)產(chǎn)品
日期：2014-02-27瀏覽：2108次
對(duì)于靜電的檢測(cè)、消除與防護(hù)，國(guó)外技術(shù)已經(jīng)非常成熟，國(guó)內(nèi)也在加大力度做這方面的工作，頗有成效。上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)作為中國(guó)電子行業(yè)儀器儀表供應(yīng)商，專(zhuān)業(yè)代理經(jīng)銷(xiāo)德國(guó)魯?shù)婪蛱┢漅udolph Tietzsch、德國(guó)科納沃茨特Kleinwachter、美國(guó)德斯科DESCO、HP-菲舍爾 (HP. FISCHER)等品牌靜電檢測(cè)、靜電消除、靜電防護(hù)等產(chǎn)品。
德國(guó)科納沃茨特Kleinwachter CPM-374充電板衰減監(jiān)測(cè)儀
CPM-374 由計(jì)時(shí)器、高壓產(chǎn)生器、靜電場(chǎng)探頭、和電極板構(gòu)成，可以測(cè)量直流電位、靜電場(chǎng)強(qiáng)和電極板上的電位衰減時(shí)間及離子平衡度。6.10版CPM-374有3個(gè)測(cè)量模式可以選擇：
充電板模式(Charge Plate Mode)
電壓表模式(Voltmeter Mode)
場(chǎng)強(qiáng)儀模式(Electrostatic Field Meter Mode)
HP-菲舍爾 (HP. FISCHER)TO-3超高電阻微小電流測(cè)試儀
TO-3測(cè)試儀用于測(cè)試高電阻及電阻率，儀器采用8個(gè)高精度參考電阻（200?～1G ?）接入測(cè)試線路，
通過(guò)放大運(yùn)算在參考電阻上的壓降并計(jì)算出整個(gè)線路的電流值，再根據(jù)歐姆定律計(jì)算出被測(cè)物體的電阻值。
采用配套的測(cè)試電極，根據(jù)測(cè)試電極的幾何尺寸，可以把測(cè)試出的電阻值換算為電阻率?？梢园央娮?電阻率轉(zhuǎn)換因子設(shè)置入儀器，儀器讀數(shù)直接為電阻率。
采用TO-3的電流測(cè)試模式，可以測(cè)試通過(guò)物體的微小電流，這一功能可用于分析不同電壓或時(shí)間下通過(guò)被測(cè)物體的電流特性，儀器具有vm-step測(cè)試模式，即連續(xù)地增加電壓測(cè)試同一物體，觀察電流的情況。另外，電流測(cè)試模式還可用于錯(cuò)誤電流的偵測(cè)，當(dāng)待測(cè)物體上并未施加電壓時(shí)，如果偵測(cè)到電流，說(shuō)明存在錯(cuò)誤電流。
TO-3測(cè)試儀器可以配套各種電極用于測(cè)試固體、粉體及液體的電阻。
美國(guó)德斯科DESCO19780表面電阻測(cè)試儀(重錘式)
按照ANSIESDS20.20的6.1.3.2的要求設(shè)計(jì),*符合美國(guó)防靜電協(xié)會(huì)的要求.
表面電阻測(cè)試儀(重錘式)用于對(duì)防靜電工作臺(tái)，防靜電臺(tái)墊，地墊,防靜電地面等物體的表面電阻進(jìn)行快速的測(cè)量.
19780和50560適用于對(duì)較小面積的表面進(jìn)行測(cè)試.
美國(guó)德斯科DESCO20780靜電電阻測(cè)試儀
SRT測(cè)試儀可以方便地測(cè)試點(diǎn)到點(diǎn)電阻(RTT), 接地電阻(RTG)和體積電阻, 配套50560平板電極可測(cè)試表面電阻率, 配套844兩點(diǎn)測(cè)試電極可測(cè)量微小物體表面電阻.
配套20002同心圓重錘電極可以測(cè)量表面電阻及表面電阻率.
SRT測(cè)試儀器按照ANSI/ESD S4.1標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定, 測(cè)試以下項(xiàng)目:
1. 防靜電工作臺(tái)面電阻(ESD S4.1標(biāo)準(zhǔn))
2. 防靜電地板電阻(ANSI/ESD S7.1標(biāo)準(zhǔn))
3. 防靜電鞋電阻(ESD S9.1標(biāo)準(zhǔn))
4. 防靜電工作服電阻(ESD STM 2.1標(biāo)準(zhǔn))
5. 防靜電工作椅電阻(ESD STM 2.1標(biāo)準(zhǔn))
6. 人體通過(guò)防靜電鞋和地板的接地電阻(ESD礙STM 97.1標(biāo)準(zhǔn))
7. 防靜電工作臺(tái)接地電阻(ESD-ADV 53.1標(biāo)準(zhǔn))
美國(guó)德斯科DESCO50671/50672吊頂型ZVI離子風(fēng)機(jī)
根據(jù)ANSI/ESD S20.20中6.2.3.1內(nèi)容規(guī)定，在靜電絕緣物體或孤立的半導(dǎo)體產(chǎn)生靜電時(shí)，應(yīng)使用電離技術(shù)產(chǎn)生正負(fù)離子中和靜電。采用電離中和技術(shù)對(duì)具有大電容的物體無(wú)效，例如人體，但在接地?zé)o法實(shí)現(xiàn)的情況下，電離中和技術(shù)應(yīng)該被采用。根據(jù)IEC 61340-5-2:1 中所規(guī)定，對(duì)導(dǎo)電物體和人體，電離中和技術(shù)不應(yīng)是*選擇。
ZVI吊頂型離子風(fēng)機(jī)采用恒定直流電暈方式把空氣電離為大量正負(fù)離子，由風(fēng)扇輸送到需除靜電物體表面以中和靜電，同時(shí)將表面灰塵吹除。
德國(guó)科納沃茨特（Kleinwachter）EFM-022靜電場(chǎng)測(cè)試儀
Electrostatic Field Meter EFM-022 and Accessories
EFM-022測(cè)試儀、EFM-022-CPS測(cè)試套件、VMS-023測(cè)試配件
EFM-022是一款小巧輕便手持式數(shù)顯靜電場(chǎng)測(cè)試儀，可在不同的距離非接觸地測(cè)量0V到+/-200kV的帶電物體表面靜電位。
EFM-022采用旋轉(zhuǎn)葉片式探頭測(cè)量靜電場(chǎng)強(qiáng)。旋轉(zhuǎn)葉片式設(shè)計(jì)比振動(dòng)式靈敏度高，更適合連續(xù)性長(zhǎng)時(shí)間測(cè)量。儀器外殼為EMV塑料，可有效屏蔽干擾信號(hào)。測(cè)量值顯示在LCD液晶屏幕上，屏幕*行顯示所選擇的測(cè)試距離，第二行顯示讀數(shù)。
德國(guó)魯?shù)婪蛱┢漅udolph Tietzsch83301防爆型接地電阻測(cè)試儀
EP 4 / EP 4Ex適用于電壓低于400V的電氣系統(tǒng)的電阻測(cè)量，讀數(shù)以數(shù)字顯示。該設(shè)備可以快速可靠地檢測(cè)保護(hù)性導(dǎo)電連接、接地安裝、電位均衡導(dǎo)線以及屏蔽和避雷等裝置。
在20Ω量程內(nèi)采用200mA測(cè)試電流，設(shè)備和接地點(diǎn)之間的測(cè)試線自身電阻（不能高于3.5Ω）零平衡校正后，在測(cè)試時(shí)做自動(dòng)補(bǔ)償，以保證測(cè)量結(jié)果的可靠性。
在普通場(chǎng)所使用的設(shè)備型號(hào)為EP 4；在Ex區(qū)域內(nèi)使用的設(shè)備型號(hào)為EX 4Ex。
二種型號(hào)的設(shè)備使用方式基本相同。
產(chǎn)品分類(lèi)
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測(cè)儀
- 國(guó)產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測(cè)試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測(cè)試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測(cè)試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(cè)試
- 電池/光伏/汽車(chē)充電樁測(cè)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛(ài)斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽(yáng)SIGLENT
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測(cè)試
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 美國(guó)BK PRECISION
- 紅外熱像儀
- 物料輪廓顏色缺料視覺(jué)篩選
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 博勒飛Brookfield
- 愛(ài)色麗X-Rite/電色NIPPON
- 梅特勒METTLER
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ADCMT愛(ài)德萬(wàn)ADVANTEST
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計(jì)
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長(zhǎng)盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國(guó)產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動(dòng)/聲學(xué)測(cè)試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測(cè)試設(shè)備
- 長(zhǎng)盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測(cè)試
- 永磁軟磁磁通量測(cè)試
- 汽車(chē)電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
- SHIMAZU島津
- 德維創(chuàng)DEWETRON
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