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基礎(chǔ)信息Product information
產(chǎn)品名稱：軟性印刷線路板FPC線束線材通斷電阻測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào)：
更新時(shí)間：2025-06-11
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
專注工業(yè)測(cè)試行業(yè)十六年，精耕細(xì)作于軟性印刷線路板FPC線束線材通斷電阻測(cè)試儀/線束通斷測(cè)試儀/連接線高低電阻測(cè)試儀/扁平線排線導(dǎo)通電阻測(cè)試儀售前演示實(shí)測(cè)、測(cè)試方案應(yīng)用、技術(shù)教育培訓(xùn)及售后維修校準(zhǔn)服務(wù)。
產(chǎn)品特性Product characteristics
專業(yè)儀器設(shè)備與測(cè)試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友（上海）測(cè)量?jī)x器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，為原安捷倫Agilent【現(xiàn)是德KEYSIGHT】品牌技術(shù)經(jīng)理-堅(jiān)JET與吉時(shí)利KEITHLEY【現(xiàn)泰克Tektronix】品牌產(chǎn)品經(jīng)理-融YOO共同創(chuàng)辦，專注工業(yè)測(cè)試行業(yè)十六年，精耕細(xì)作于儀器設(shè)備售前演示實(shí)測(cè)、測(cè)試方案應(yīng)用、技術(shù)教育培訓(xùn)及售后維修校準(zhǔn)服務(wù)。
軟性印刷線路板FPC線束線材通斷電阻測(cè)試儀/線束通斷測(cè)試儀/連接線高低電阻測(cè)試儀/扁平線排線導(dǎo)通電阻測(cè)試儀應(yīng)用
通訊和IT：電話線、網(wǎng)絡(luò)連接線、多股連接線、手機(jī)屏線、TYPE-C數(shù)據(jù)線、USB數(shù)據(jù)線、筆記本電腦屏線、HDMI連接線、VGA連接線、IDE硬盤連接線、SATA硬盤連接線等
汽車電子：ECU連接線、汽車線束、導(dǎo)航連接線、導(dǎo)航屏線、車載電子產(chǎn)品連接線、音視頻連接線
電子工業(yè)：排線、扁平線、接插件、電源線、多路開關(guān)、RS232連接線、GPIB連接線、USB延長(zhǎng)線、多芯插座
元器件：無(wú)源器件：電容、電感，電阻，二極管，電容極性、壓降
安規(guī)測(cè)試交流耐壓、直流耐壓、絕緣絕緣
系統(tǒng)提供*進(jìn)的外四線量測(cè)法，導(dǎo)通電阻最小可測(cè)1mΩ
可作線材單邊、標(biāo)準(zhǔn)、多段和點(diǎn)測(cè)功能測(cè)試
導(dǎo)通電阻可單獨(dú)分組設(shè)定，單邊可點(diǎn)測(cè)導(dǎo)通電阻
單邊靈敏度可對(duì)單根線分別設(shè)定
電容最大可測(cè)1000μF，可測(cè)電容量及電容正負(fù)極
短路、開路不良分邊準(zhǔn)確無(wú)誤
系統(tǒng)整體測(cè)試速度較傳統(tǒng)同類產(chǎn)品提升一倍
提供 RS232 接口,并可與 PC 聯(lián)機(jī)操作
特殊材料與制造工藝，絕緣不受潮濕空氣影響
軟性印刷線路板FPC線束線材通斷電阻測(cè)試儀/線束通斷測(cè)試儀/連接線高低電阻測(cè)試儀/扁平線排線導(dǎo)通電阻測(cè)試儀是專用于各種線纜，線束和排線品質(zhì)及連接可靠性檢驗(yàn)的多功能，自動(dòng)化的線材綜合參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)提供可編程的恒流恒壓源以及高壓源，測(cè)試項(xiàng)目涵蓋了導(dǎo)通，被動(dòng)元件（電感，電阻，電容，二極管），交直流耐壓，絕緣電阻各種高低壓參數(shù)。本系統(tǒng)采用*進(jìn)的LCR數(shù)字采樣及高速長(zhǎng)壽命通道切換技術(shù)，大大提高了測(cè)試精度，速度以及使用壽命。采用高低壓分離技術(shù)，大大的提高絕緣電阻的測(cè)試性能。豐富的接口設(shè)計(jì)，本儀器還提供RS232, RS485, GPIB, USB, LAN, Handler等接口，便于用戶運(yùn)用于自動(dòng)化檢測(cè)和自動(dòng)化產(chǎn)線。
測(cè)試參數(shù)
測(cè)試項(xiàng)目 | 測(cè)試范圍 |
斷/短路O/S | 1KΩ~100KΩ |
導(dǎo)通電阻測(cè)試COND | 1mΩ~50Ω |
電阻量測(cè)R | 0.1Ω~10MΩ |
電容量測(cè)C | 50pF~1000μF |
二極管量測(cè)D | 0.0V~7.0V |
絕緣阻抗I.R | 0.1MΩ~1000MΩ |
直流漏電流IL | 1μA~1000μA |
高壓漏電流IL | 0.01mA~5mA |
瞬間導(dǎo)通阻抗INT.COND | 10mΩ~50Ω |
快速瞬斷INT.OPEN | 0.4ms |
瞬間短斷路INT.O/S | 2ms/64pin |
有不同參數(shù)型號(hào)，可根據(jù)實(shí)際使用指標(biāo)選擇。
參數(shù) | 范圍 | 詳細(xì)指標(biāo) | |
測(cè)試腳位（Pin） | JR8690B | 128 | |
JR8690A | 64 | ||
測(cè)試信號(hào)源 | 正弦信號(hào)源 | 50Hz-100kHz 幅度、頻率可編程 | 0.02% |
電容元件測(cè)試 | 1Vrms | 10% | |
可編程直流信號(hào)源 | 5Vdc MAX | 10% ±1個(gè)字 | |
可編程直流電流源 | 1-20mA | 10% ±1個(gè)字 | |
可編程直流高壓源 | 5V-100V | 10% ±1個(gè)字 | |
100V-1500V | 5% ±1個(gè)字 | ||
可編程交流高壓源 | 50V-100V | 10% ±1個(gè)字 | |
100V-1000V | 5% ±1個(gè)字 | ||
通道板通斷掃描信號(hào)源 | 5V | ||
測(cè)試速度 | 瞬間斷短路（128點(diǎn)） | 10ms（一次全部掃描64NET O/S的時(shí)間） | |
單邊靈敏度掃描測(cè)試(64 路) | |||
網(wǎng)絡(luò)表掃描測(cè)試（64 路） | |||
測(cè)試速度基本值 | 100ms（單個(gè)被動(dòng)元件的測(cè)量時(shí)間，或者一條電纜的總測(cè)量時(shí)間） | ||
電容測(cè)量 | 10pF-1000μF | 10% ±1個(gè)字 | |
電阻測(cè)試 | 0.01Ω-1MΩ | 2% ±1個(gè)字 | |
導(dǎo)通/瞬通 | 0.01Ω-950Ω | 2% ±1個(gè)字 | |
斷短路 | 1kΩ-50kΩ | 10% ±1個(gè)字 | |
二極管測(cè)試 | 0-10V | 10% ±1個(gè)字 | |
絕緣電阻 | 1MΩ-100MΩ | 5% ±5個(gè)字 | |
100MΩ-1000MΩ | 10% ±5個(gè)字 | ||
直流漏電流 | 1μA-5mA | 5% ±2個(gè)字 | |
交流漏電流 | 0.01mA-5mA | 10% ±5個(gè)字 | |
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測(cè)儀
- 國(guó)產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測(cè)試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測(cè)試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測(cè)試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(cè)試
- 電池/光伏/汽車充電樁測(cè)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽(yáng)SIGLENT
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測(cè)試
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- > 汽車設(shè)備電源故障模擬器
- > 拋負(fù)載
- > 電纜束注入敏感度測(cè)試系統(tǒng)
- > 寬帶功率放大器
- > 汽車電子電磁兼容EMC/波形
- > 耦合去耦合
- > 諧波和閃爍
- > 射頻傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試系統(tǒng)
- > 阻尼振蕩磁場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng)
- > 振鈴波發(fā)生器
- > 電壓跌落模擬器
- > 電快速瞬變脈沖群發(fā)生器
- > 耐壓絕緣電阻測(cè)試儀
- > 絕緣電阻測(cè)試儀
- > 安規(guī)綜合測(cè)試儀
- > AC/DC交直流耐壓測(cè)試儀
- > 泄漏電流測(cè)試儀
- > 雷擊浪涌/EMC電磁兼容測(cè)試
- > 接地導(dǎo)通電阻測(cè)試儀
- > ESD靜電放電發(fā)生器
- > 安規(guī)綜合校準(zhǔn)盒
- 美國(guó)BK PRECISION
- 紅外熱像儀
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 博勒飛Brookfield
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- 梅特勒METTLER
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ADCMT愛德萬(wàn)ADVANTEST
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計(jì)
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長(zhǎng)盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國(guó)產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動(dòng)/聲學(xué)測(cè)試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測(cè)試設(shè)備
- 長(zhǎng)盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測(cè)試
- 永磁軟磁磁通量測(cè)試
- 汽車電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
- SHIMAZU島津
- 德維創(chuàng)DEWETRON
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